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● BI-XDC는 보정없이 입도를 측정할 수 있는 광디스크 원심분리 입도분석기 입니다. 또한 X-ray를 사용하여 높은 굴절률을 가진 시료 측정에 적합니다.
(원소번호 20 번 이상의 물질을 측정에 적합한 장비 입니다.)
● 최소15% 차이를 보이는 고농도 시료의 크기를 분석하고, 분포를 정량화 할 수 있습니다.
● 광산란 보정없이, 부피/질량 분산도를 바로 측정합니다.
응용분야
• 산화물 나노입자
• 금속산화물, 금속분말
• 알루미나, 알루미나 세라믹
• 산화티나늄(TiO2) 현탁액
• 지르코니아 나노입자
• Super-paramagnetic iron oxide nanoparticles (SPION)
• 텅스텐 나노입자
• 연마제
• 나노 세라믹 입자
• 이산화세륨 나노입자
• 금속 프탈로시아닌 나노복합소재
• 탄화규소(Silicon Carbide)
• 질화규소(Silicon Nitride) 크기
• 케스팅 입자 크기
• 광물
• 클레이
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Size Range
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0.01-100 microns, depends on particle
and liquid density and liquid viscosity
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Centrifuge Speed
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500-6000 rpm, +/-0.01%, high speed
disc available see options
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Disc
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PMMA construction, 10-30 mL volume,
solvent resistant disc available see options
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Scanning Speed
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0.05-10 mm/min, 1 mm/min typical
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Measurement Time
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3-30 min, typically 8 min/decade in
particle diameter,
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Data System
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High-performance Windows™ system with
color printer. Contact factory for latest specifications
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Software
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Written for Windows™, control,
archiving and data analysis,
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Power Requirements
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100/115/240 VAC, 50/60 Hz, 300 Watts,
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Dimensions
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230(H) x 460(W) x 600(D), mm
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Weight
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35 kgs
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Certifications
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CE Marked
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